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LOCATION:Exhibitor - Forum, hall 6
SUMMARY:KI-unterstützte Defekterkennung kritischer Funktionsflächen
DESCRIPTION:Presenter Fernando Schneider, AIT Goehner GmbH             \nhttps://www.bondexpo-messe.de/en/Lecture/4483-ki-unterstuetzte-defekterkennung-kritischer-funktionsflaechen
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